ICP-MS 离子透镜
在 7700、7800、7850、7900、8800、8900 和 9500 ICP-MS 系统中，离子透镜在分离离子与光子、残留中性粒子方面起着重要作用，可确保获得更低的背景信号、更高的灵敏度和高效的干扰去除，实现准确的痕量分析。
安捷伦 ICP 透镜组件采用高传输率的离轴 ICP Omega 透镜，经过精密调谐，可在整个质量数范围内实现理想性能。这种先进的设计增强了离子聚焦能力，并改善了各种样品类型的信号稳定性。
我们提供替换用离子透镜组件和单个 ICP 透镜组件，用于满足日常维护和系统优化需求。配置选件包括：用于常规应用的 ICP x 透镜和 u 透镜，用于需要冷等离子体的半导体分析的 ICP s 透镜，以及用于无需冷等离子体的半导体应用的 ICP m 透镜。
安捷伦灵活的 ICP 透镜配置方案允许用户根据具体分析需求定制 ICP-MS 系统，确保获得稳定、高质量的结果。
安捷伦 ICP 透镜组件采用高传输率的离轴 ICP Omega 透镜，经过精密调谐，可在整个质量数范围内实现理想性能。这种先进的设计增强了离子聚焦能力，并改善了各种样品类型的信号稳定性。
我们提供替换用离子透镜组件和单个 ICP 透镜组件，用于满足日常维护和系统优化需求。配置选件包括：用于常规应用的 ICP x 透镜和 u 透镜，用于需要冷等离子体的半导体分析的 ICP s 透镜，以及用于无需冷等离子体的半导体应用的 ICP m 透镜。
安捷伦灵活的 ICP 透镜配置方案允许用户根据具体分析需求定制 ICP-MS 系统，确保获得稳定、高质量的结果。
产品详细信息
特性
- 离子传输效率极高的离轴或 Omega 透镜能够将带正电荷的离子与光子和中性颗粒分开。
- 离子提取透镜可作为单个部件提供，或作为组件提供。
- 建议使用 x 透镜和 u 透镜进行常规分析
- 建议使用 s 透镜进行半导体分析
- 可提供各种额外的透镜组件和维护备件：螺钉和垫片套装、透镜清洁和抛光工具包
- 提取透镜的位置正好在截取锥后面，并安装在截取锥基座上。它们的作用是提取正离子并将正离子加速传输到碰撞/反应池和 MS 检测器中。
工作原理
应用
